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Formation Analyse de matériaux par Microscope Electronique en Transmission (in situ avec des ions)Aucune description |
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Ligne microfaisceau focalisé extrait à l’air.Ligne microfaisceau focalisé extrait à l’air. Faisceau micrométrique contrôlé ion par ion pour une irradiation à l’échelle du µm : Système de détection des particules chargées et vidéo-microsopie de fluorescence en ligne. |
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Formation Accueil Irradiation gamma 6 MeVAucune description |
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Irradiation neutrons 15.2MeVIrradiation neutrons 15.2MeV, 5x10^7 n.cm-2.s-1 ou 3 MeV 10^5 n.cm-2.s-1 |
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Implanteur ionique 190kV IRMAAvec sa source Bernas-Nier, IRMA a la possibilité de fournir des faisceaux de 65 éléments chimiques différents, avec des énergies allant de 5 à 590 keV. Avec des flux pouvant dépasser les 1E13 at/(s*cm2), le large choix d’éléments chimique permet d’envisager divers travaux tels que le dopage de semi-conducteurs, l’implantation de terres-rares dans des cellules solaires, la création de précipités, la création de défauts ou l’incorporation de gaz. Son couplage avec l’accélérateur d’ions ARAMIS permet l’analyse par RBS/C in situ des modifications induites dans le matériau par l’implantation ionique. Son couplage avec ARAMIS et le MET permet des expériences de co-irradiations et observations à l’échelle nanométrique uniques au monde. |
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