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Formation Analyse de matériaux par Microscope Electronique en Transmission (in situ avec des ions)Aucune description |
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Formation Analyse / micro-analyse par faisceaux d'ionsAucune description |
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Accélérateur Singletron (HVEE)Accélérateur Singletron (HVEE), énergie comprise entre 500 keV et 3,5 MeV, 1H+, 2H+, 4He+, 100 pA à 50µA |
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Ligne macrofaisceau pour la caractérisation des échantillons de dimensions millimétriquesLigne macrofaisceau pour la caractérisation des échantillons de dimensions millimétriques : Détecteurs Si(Li) et Ge pour détection X et gamma. Détecteurs de particules (PIPS). Electronique de mise en forme et acquisition MPA3 FastCom Tech. |
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Formation prestation d'analyse ou irradiationAucune description |
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