SCALP

SCALP est une plateforme de recherche interdisciplinaire permettant d’aborder de nombreux champs scientifiques allant de l’astrophysique et des astro-particules à l’énergie nucléaire de fusion et de fission, en passant par la physique de l’état solide, la physico-chimie des matériaux, la microélectronique, les nanosciences, les sciences de la terre. La plateforme se compose de différents équipements d’irradiation/implantation (ARAMIS, IRMA et SIDONIE) et d’analyse (RBS, PIXE, PIGE, MET…) permettant de caractériser in situ l’évolution des modifications structurales et chimiques des matériaux sous irradiation. La plateforme SCALP fait partie de la fédération EMIR qui est inscrite dans la feuille de route nationale des infrastructures de recherche.

Les instruments et services associés à la plateforme

Accélérateur d'ions 2MV ARAMIS

-35 éléments chimiques disponibles -Energie de faisceaux entre 100 keV et 11 MeV -Ligne de caractérisation de matériaux -Ligne d'irradiation/implantation haute-énergie -Températures de -170°C à 1000°C -Possibilité de couplage avec l'implanteur IRMA -Possibilité de couplage avec le Microscope Electronique en Transmission RBS, PIXE, MICROPIXE, ERDA, PIGE, IBA, Caractérisation, RBS/C in situ, Implantation, Irradiation, ions, Interaction ion-matière, Matériaux du nucléaire, Microélectronique, Photovoltaïque, …

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Formation Analyse de matériaux par Microscope Electronique en Transmission (in situ avec des ions)

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Formation Implantation/Irradiation de matériaux

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Implanteur ionique 190kV IRMA

-65 éléments chimique disponibles -Energie de faisceau entre 5 keV et 500 keV -Températures de -170°C à 1000°C -Possibilité de couplage avec l'accélérateur ARAMIS -Possibilité de couplage avec le Microscope Electronique en Transmission Implantation, Irradiation, ions, Matériaux du Nucléaire, Matériaux du nucléaire, Microélectronique, Photovoltaïque, Synthèse

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Microscope Electronique en Transmission 200kV

-Filament LaB6 -Résolution 0.27nm -Caméra à haute résolution 2K -Caméra grand angle -Détecteur EDX -Gatan Image Filter (EELS + EFTEM) -Mode STEM (BF/DF/HAADF) -Portes-Echantillons Simple ou Double rotation -Températures de -170°C à 1000°C -Possibilité de couplage avec ARAMIS et/ou IRMA Microscopie Electronique en Transmission, in situ, ions, température, Analyse EDX, EELS, EFTEM, STEM HAADF, Matériaux du nucléaire, Interaction ion-matière, Caractérisation structurale et chimique, Irradiation simple ou double faisceaux d'ions

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